分析范圍0~50微米
分析誤差5%
分析時間30秒
重復(fù)性0.1%
電源電壓220V
EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區(qū)X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點位編程測試,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。
X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動切換的準(zhǔn)直孔和濾光片

月,伴著撲面而來的春風(fēng),第70屆美國匹茲堡實驗室展PITTCON將于2019年3月18日—21日在美國費城賓夕法尼亞展覽中心舉行,PITTCON被譽(yù)為全球的分析化學(xué)、科學(xué)分析及實驗室展。
作為國內(nèi)化學(xué)分析儀器的,天瑞儀器自然不會缺席這場行業(yè)盛宴。屆時,天瑞將向世界展示天瑞儀器在化學(xué)分析儀器領(lǐng)域的技術(shù)與實力。
隨著市場需求的快速增長,天瑞儀器國際市場的步伐也在不斷加碼。目前,天瑞產(chǎn)品已遠(yuǎn)銷全球140多個國家和地區(qū)。連年參加PITTCON、Analytica、ArabLab 等國際展覽會,向全球客戶展現(xiàn)了我們天瑞的產(chǎn)品和解決方案。相信在本次PITTCON 2019上,天瑞儀器亦將再度彰顯國產(chǎn)儀器風(fēng)采,展現(xiàn)中國技術(shù)水平。
此次展會,天瑞儀器將攜帶手持式合金分析儀EXPLORER 5000、船用燃油硫含量快速檢測設(shè)備Cube 100S PLUS、熒光合金分析儀EDX3600H X、能量色散X熒光光譜儀EDX3200S PLUS-C等儀器盛裝出席。展位號:1539,屆時歡迎廣大嘉賓蒞臨展會現(xiàn)場參觀,相信我們天瑞的產(chǎn)品一定能讓您不虛此行!

性能優(yōu)勢
1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測需求,專門研發(fā)適用于鍍層檢測的超近光路系統(tǒng),減少能量過程損耗。搭載的多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管,大的提升了儀器的檢測性能,聚焦強(qiáng)度提升1000~10000倍,更高的檢測靈敏度和分析精度以及高計數(shù)率保證測試結(jié)果的性和穩(wěn)定性。
2、全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計,呈現(xiàn)全高清廣角視野,讓樣品觀察更全面;微米級別分辨率,的滿足超微產(chǎn)品的測試,讓測試更廣泛更便捷。
3、的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),信號強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。
4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管,的滿足用戶不同測試需求。
5、高精度XYZ軸移動測試平臺,結(jié)合雙激光點位定位系統(tǒng),可實現(xiàn)在樣品測試過程中的全自動化感受一鍵點擊,測試更省心。

2019年10月23日,第北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會(BCEIA2019)在北京國家會議中心隆重舉辦。作為國際分析測試行業(yè)的盛會,今年的BCEIA是一番高朋滿座的熱鬧景象。來自世界各地的500家儀器企業(yè)參展,天瑞儀器如期赴約,精彩亮相。
本次展會,天瑞儀器可謂是產(chǎn)品豐富、陣容強(qiáng)大。攜旗下子公司上海磐合科學(xué)儀器股份有限公司(以下簡稱:磐合科儀)、及天瑞儀器福建分公司帶領(lǐng)眾多產(chǎn)品亮相本次大會。豐富的產(chǎn)品,前瞻的技術(shù)吸引了大批觀眾前來咨詢,與天瑞技術(shù)人員探討產(chǎn)品細(xì)節(jié),交流應(yīng)用經(jīng)驗。展會期間,天瑞儀器還設(shè)立了掃碼贏環(huán)節(jié),微信公眾號“幸運(yùn)”簡單,互動性強(qiáng),吸引了眾多觀眾掃碼挑戰(zhàn)。 為期四天的盛會已落下帷幕,天瑞儀器希望通過本次展會,向更多用戶展示天瑞在科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新成果。天瑞儀器將不忘初心,砥礪前行,繼續(xù)譜寫分析檢測領(lǐng)域的新傳奇,力爭做世界的分析檢測解決方案提供者,打造儀器精品,為客戶創(chuàng)造更多價值。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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